Neste minicurso serão apresentados os conceitos físicos e os modelos matemáticos que descrevem o comportamento óptico de filmes finos transparentes e semitransparentes. Estes conceitos e modelos, em conjunto com as propriedades de polarização da luz, fundamentam a aplicação da técnica de elipsometria espectrofotométrica como poderosa ferramenta para caracterização de filmes finos. Através desta técnica não destrutiva é possível determinar com grande precisão as funções dielétricas do material e, por conseguinte, os observáveis ópticos como índice de refração e coeficiente de extinção/absorção, ao mesmo tempo em que se determina com grande acuidade a espessura das camadas que podem variar de poucos nanômetros até dezenas de micrômetros.

Neste contexto, os aspectos práticos da configuração do equipamento, da realização das medidas, e da análise de resultados também compõe parte importante do minicurso, incluindo a realização de medida experimental no elipsômetro HORIBA UVISEL 2, de última geração, instalado nas dependências do Laboratório de Plasmas e Processos do ITA.

O responsável por este minicurso é o Prof. Dr. Douglas Marcel Gonçalves Leite. Abaixo, segue um resumo do currículo do professor, assim como consta no currículo Lattes dele:

Doutor em Ciência e Tecnologia de Materiais pela Universidade Estadual Paulista e Johannes Kepler University em Linz, Áustria (2011). Possui Graduação em Física (2005) e Mestrado em Ciência e Tecnologia de Materiais (2007) pela UNESP. Atualmente é Tecnologista Pleno do Instituto Tecnológico de Aeronáutica (ITA), pertencendo aos Corpo Docente Permanente do Departamento de Física e do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Aeronáutica e Mecânica (PG-EAM) desta Instituição. Atua nas áreas de Engenharia de Materiais, Tratamentos de Superfícies, Materiais Semicondutores, Filmes Finos, Tecnologia de Plasma, Processos a Plasma, Sensores e Dispositivos Fotovoltaicos

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